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外殼IP防護等級試具_IP淋雨試驗設(shè)備_溫升測試角_擺錘沖擊試驗裝置_灼熱絲試驗儀_晶振測試儀
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    慶祝我司與成都產(chǎn)品質(zhì)量檢驗研究院有限責(zé)任公司合作成功

    2016-06-01 21:00:38
    慶祝我司與成都產(chǎn)品質(zhì)量檢驗研究院有限責(zé)任公司合作成功
    近日,成都產(chǎn)品質(zhì)量檢驗研究院有限責(zé)任公司從我司訂購一套IP1X-IP4X防護等級試具,

    CX-IP1X試驗探棒
    產(chǎn)品概述:
    符合IEC61032圖1試具A、GB16842試具A、GB4208IP1、IEC60529IP1、IEC60065等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手背觸及的防護檢驗。

    技術(shù)參數(shù):
    1、探球直徑:50mm
    2、擋板直徑:45mm
    3、擋板厚度:4mm
    4、手柄直徑:10mm
    5、手柄長度:100mm
    6、根據(jù)IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6(*位特征數(shù)字1)
    ●可訂制帶50±5N推力。

    CX-IP2X試驗探棒
    產(chǎn)品概述:
    符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。

    技術(shù)參數(shù):
    1、彎指直徑:12 mm
    2、彎指長度:80mm(三節(jié)總長度)
    3、擋板直徑:50mm
    4、擋板長度:100mm
    5、參考標(biāo)準(zhǔn):GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032:1997 圖2

    ●可訂制帶10±1N推力。


    IP20C試驗探棒
    基本簡介:
    1、根據(jù)IEC61032,GB4208,GB2099.1等相應(yīng)條款制作而成。
    2、12.5MM試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。

    技術(shù)參數(shù):
    1、探球直徑:12.5mm
    2、檔板厚度:4mm
    3、檔板直徑:10mm
    4、手柄直徑:4mm


    CX-IP3X試驗探針
    產(chǎn)品概述:
    符合IEC61032圖2試具C、IEC60529IP3、GB4208IP3、GB/T16842試具C、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手持工具觸及的防護檢驗。

    技術(shù)參數(shù):
    1、探棒長度:100mm
    2、探棒直徑:2.5mm
    3、檔球直徑:35mm
    4、手柄直徑:10mm
    5、手柄長度:100mm
    6、根據(jù)IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6(*位特征數(shù)字3)。
    ●可訂制帶3±0.3N推力。
    使用方法:如圖所示,標(biāo)準(zhǔn)試驗指的關(guān)節(jié)部分不能觸及帶電部件或不能接近危險部件,并且35mm的圓擋板不能進入。
    防止接近危險部件的試驗要求中,C、D型試驗探棒需帶3±0.3N N或1±0.1N推力。
    注意:不帶推力產(chǎn)品請配合推拉力計使用。
    8.注意事項:請不要輕易調(diào)整推力,如需調(diào)整,請使用分辨精度至少為0.033N儀器對C、D型試驗探棒進行校準(zhǔn)。由于試驗探棒較為精密機械產(chǎn)品,使用時請輕拿輕放,妥善保管。
    試驗探棒頂部可能會生銹,注意保養(yǎng)防護。


    CX-IP4X試驗探針
    產(chǎn)品概述:
    符合IEC61032圖4試具D、IEC60529IP3、GB4208IP4、GB/T16842試具D、GB8898、IEC60065、IEC60598、GB7000等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手持金屬絲觸及的防護檢驗。

    技術(shù)參數(shù):
    1、探棒長度:100mm
    2、探棒直徑:1mm
    3、檔球直徑:35mm
    4、手柄直徑:10mm
    5、手柄長度:100mm
    6、根據(jù)IEC61032圖4(Test probe D) 、GB/T4208-2008表6(*位特征數(shù)字4/5/6)。

    ● 可訂制帶1±0.1N推力。

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    吳洪欽
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